X荧光光谱仪的测试步骤有三

　　X荧光光谱仪是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。

　　X荧光光谱仪技术的主要特征为：

　　利用低能X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率：具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；

　　采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：

　　利用解谱技术使谱峰分解，使分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

　　使用寿命的技术：

　　（1）、光管自动老化功能；

　　（2）、自动跟进不同材质选择不同的光管电流；

　　（3）、强大的散热系统保证光管正常的工作条件；

　　模块化的功能设计理念便于应对指令进行、检测元素内容的升；*更为精巧的工艺，实现小体积样品的检测；

　　全光路射线防护系統配合三重安全防护设计，同时采用软硬件双重安全连锁，保辐射安全性能。

　　X荧光光谱仪的测试步骤：

　　（1）选择分析方法与制样方法。分析方法一般有基本参数法、半基本参数法、经验系数法等，制样方法一般有抛光法、压片法、滤纸片法和熔片法，常用粉末压片法制样，采用基本参数法测试。

　　（2）将制备好的样片装进样品杯，放入样品交换器中，自动进样至样品室，X射线管发出原级X射线照射样品，激发出待测元素的荧光X射线。

　　（3）样品辐射出的荧光X射线通过分光晶体，将X射线荧光光谱色散成孤立的单色分析线，由探测器测量各谱线的强度，根据选用的分析方法换算成元素浓度，得到样品中待测元素含量。www.olympu***.cn